基于S-JI的高精度快速干涉粒子成像条纹图频率提取方法

2024-06-05 光电子·激光230 1.29M 0

  摘要:高精度的提取条纹频率信息是干涉粒子成像技术的关键,本文提出一种基于简化的联合插值的快速条纹图频率细化算法。该算法利用傅立叶谱的实部和虚部得到亚像素精度的条纹频率,由于不需要计算频移量和再次频率细化(频移),降低了算法复杂度,缩短了计算时间。数值模拟表明,相比于联合插值算法,时间节省了2/3,且具有更优的频率估计精度和稳定性。对25 μm和70 μm的标准粒子进行了测量,粒径测量相对误差低于0.3%。研究结果表明该算法可用于高速喷射粒子场的高精度测量。

  文章目录

  0引 言

  1 S-JI算法

  2模拟及实验分析

  2.1 模拟实验

  2.2 实验分析

  3结论



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