为解决喷印OLED发光层制备中基板污点、涂布不均等问题引起的Mura缺陷，建立基于单松弛格子玻尔兹曼方法（BGK-LBM）的3维数值模型，对喷印OLED像素槽附近墨滴落点偏差引起的散点沉积缺陷进行仿真分析。先研究不同墨滴尺寸以不同撞击速度撞击不同接触角平板后的最大铺展半径，再以最大铺展半径为参考研究不同润湿性梯度下的像素槽外墨滴的铺展回流，最后得出接触角变化时的墨演有效落点偏差的相图。结果表明：对于微米级直径的OLED喷印墨滴，尺寸越大、墨滴撞击速度越大、像素槽内接触角越小其最大铺展半径越大；而针对存在落点偏差的散点，当最大铺展半径大于或等于散点的落点偏差时，将在足够的像素槽基板内外接触角差值引起的润湿性梯度牵引下重新进入像素槽内；撞击速度还影响其回缩阶段的回缩速度，撞击速度越小回缩越慢，因此墨滴会受到润湿性梯度的影响而被牵引向润湿度高的一侧；只有当像素槽内外接触角造成的润湿性梯度足够时，在撞击铺展后边缘进入像素槽边界处的墨滴才能被牵引重新流入像素槽内，散点沉积缺陷即得到抑制。本文提出的最大铺展半径可以用来拓宽像素槽外墨滴的有效落点范围，作为喷印OLED制备中打印精度控制的参考，用于指导生产。
